| 发明名称 | 分析系统和分析样品的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种分析系统，所述系统包括：电离源，其于大气中产生气相离子的连续流；不连续的大气压接口，其接收来自所述电离源的气相离子；和小型质谱仪的质量分析器，其不连续地接收来自所述不连续的大气压接口的离子而无需使所述离子穿过任何中间真空级，所述系统经构造以使得所述质量分析器间歇地与大气相通一段时间，引致所述质量分析器内的压力增加到高于可以进行质量分析或离子操纵的压力，并且在所述质量分析器被抽空到可以进行质量分析或离子操纵的压力时，间歇地阻止所述质量分析器接收任何离子。本发明还涉及一种分析样品的方法。 | ||
| 申请公布号 | CN104051219A | 申请公布日期 | 2014.09.17 |
| 申请号 | CN201410195435.6 | 申请日期 | 2008.05.30 |
| 申请人 | 普度研究基金会 | 发明人 | Z·欧阳;L·高;罗伯特·格雷厄姆·库克斯 |
| 分类号 | H01J49/04(2006.01)I;H01J49/24(2006.01)I;H01J49/00(2006.01)I | 主分类号 | H01J49/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人 | 顾红霞;彭会 |
| 主权项 | 一种分析系统，所述系统包括：电离源，其于大气中产生气相离子的连续流；不连续的大气压接口，其接收来自所述电离源的气相离子；和小型质谱仪的质量分析器，其不连续地接收来自所述不连续的大气压接口的离子而无需使所述离子穿过任何中间真空级，所述系统经构造以使得所述质量分析器间歇地与大气相通一段时间，引致所述质量分析器内的压力增加到高于可以进行质量分析或离子操纵的压力，并且在所述质量分析器被抽空到可以进行质量分析或离子操纵的压力时，间歇地阻止所述质量分析器接收任何离子。 | ||
| 地址 | 美国印第安纳州 | ||