发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR ALIGNING PROBE CARD AND WAFER
摘要
申请公布号 KR101442397(B1) 申请公布日期 2014.09.17
申请号 KR20130020964 申请日期 2013.02.27
申请人 发明人
分类号 G01R1/073;H01L21/66 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
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