发明名称 |
半导体基板洗净系统及半导体基板的洗净方法;SEMICONDUCTOR SUBSTRATE CLEANING SYSTEM AND CLEANING METHOD OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE |
摘要 |
本发明的半导体基板的洗净方法是自具有以Si作为构成成分的层的半导体基板上除去铂及/或铂合金,该半导体基板的洗净方法能有效地对Al或矽化物膜、Si系绝缘膜、Si系基板等进行洗净而不会造成损伤。该半导体基板的洗净方法为自具有以Si作为构成成分的层的半导体基板上除去铂及/或铂合金;该半导体基板的洗净方法包括:第1洗净步骤,使包含以硝酸及/或过氧化氢作为主要溶质的第1溶液与上述半导体基板接触而洗净;及第2洗净步骤,使含有包含氧化剂的硫酸溶液及卤化物且温度为25℃~100℃的第2溶液与经过第1洗净步骤的上述半导体基板接触而洗净。 |
申请公布号 |
TW201436010 |
申请公布日期 |
2014.09.16 |
申请号 |
TW103107060 |
申请日期 |
2014.03.03 |
申请人 |
栗田工业股份有限公司 |
发明人 |
小川佑一 |
分类号 |
H01L21/30(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/30(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>叶璟宗</name><name>郑婷文</name><name>詹富闵</name> |
主权项 |
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地址 |
KURITA WATER INDUSTRIES LTD. 日本 |