发明名称 背面射入型能量线检测元件
摘要 背面射入型能量线检测元件1具备半导体基板11、及保护膜21。半导体基板11具有作为能量线射入面之第一主面11a、及与第一主面11a对向之第二主面11b,根据能量线之射入而产生电荷之电荷产生区域13系设置于第二主面11b侧。保护膜21以至少覆盖电荷产生区域13之方式,设置于半导体基板11之第二主面11b侧,且含有氮化矽或氮氧化矽。保护膜21具有缓和于保护膜21产生之应力之应力缓和部。
申请公布号 TW201436179 申请公布日期 2014.09.16
申请号 TW103104298 申请日期 2014.02.10
申请人 滨松赫德尼古斯股份有限公司 发明人 宫崎康人;前田坚太郎;村松雅治
分类号 H01L27/144(2006.01) 主分类号 H01L27/144(2006.01)
代理机构 代理人 <name>陈长文</name>
主权项
地址 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. 日本