发明名称 制备具有经径向膨胀而得之减低之应变之异质结构的方法及装置;PROCESSES AND APPARATUS FOR PREPARING HETEROSTRUCTURES WITH REDUCED STRAIN BY RADIAL DISTENSION
摘要 本发明揭示制备具有减低之应变之异质结构之装置及方法。该等异质结构可包括半导体结构,该半导体结构依形于晶格常数不同于该结构之表面层,以形成相对较低缺陷异质结构。
申请公布号 TW201436198 申请公布日期 2014.09.16
申请号 TW102149287 申请日期 2013.12.31
申请人 MEMC电子材料公司 发明人 法斯特 罗伯特J;瓦诺库夫 瓦帝莫尔V;皮特尼 约翰A;亚伯查特 彼得D
分类号 H01L29/02(2006.01) 主分类号 H01L29/02(2006.01)
代理机构 代理人 <name>陈长文</name>
主权项
地址 MEMC ELECTRONIC MATERIALS, INC. 美国