发明名称 半导体装置及其制作方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FORMING THE SAME
摘要 一种制作半导体装置的方法,包括下列步骤。首先,提供一半导体基底,其中一金属闸极结构以及一第一介电层系设置于半导体基底上,且金属闸极结构之一顶面与第一介电层之一顶面切齐。接着,形成一图案化遮罩于金属闸极结构上,且图案化遮罩未重叠该第一介电层。随后,全面性形成一第二介电层于半导体基底上,且第二介电层覆盖图案化遮罩,接下来,移除部分第二介电层与第一介电层以形成至少一接触洞。
申请公布号 TW201436209 申请公布日期 2014.09.16
申请号 TW102109322 申请日期 2013.03.15
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 曹博昭;林建廷
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 <name>吴丰任</name><name>戴俊彦</name>
主权项
地址 UNITED MICROELECTRONICS CORP. 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号