发明名称 | 半导体装置及其制作方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FORMING THE SAME | ||
摘要 | 一种制作半导体装置的方法,包括下列步骤。首先,提供一半导体基底,其中一金属闸极结构以及一第一介电层系设置于半导体基底上,且金属闸极结构之一顶面与第一介电层之一顶面切齐。接着,形成一图案化遮罩于金属闸极结构上,且图案化遮罩未重叠该第一介电层。随后,全面性形成一第二介电层于半导体基底上,且第二介电层覆盖图案化遮罩,接下来,移除部分第二介电层与第一介电层以形成至少一接触洞。 | ||
申请公布号 | TW201436209 | 申请公布日期 | 2014.09.16 |
申请号 | TW102109322 | 申请日期 | 2013.03.15 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 曹博昭;林建廷 |
分类号 | H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) | 主分类号 | H01L29/78(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | <name>吴丰任</name><name>戴俊彦</name> | |
主权项 | |||
地址 | UNITED MICROELECTRONICS CORP. 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |