发明名称 |
至少含有铟及镓之氧化物的蚀刻液及蚀刻方法;ETCHANT AND ETCHING PROCESS FOR OXIDES CONTAINING AT LEAST INDIUM AND GALLIUM |
摘要 |
本发明系关于在含有铟与镓及氧、或含有铟与镓与锌及氧而构成之氧化物等至少含有铟及镓之氧化物之蚀刻可理想地使用的蚀刻液及蚀刻方法。依本发明之理想态样,藉由使用含有硫酸或其盐、及羧酸(但排除草酸)或其盐之蚀刻液,于至少含有铟及镓之氧化物之蚀刻具有理想的蚀刻速率且残渣除去性亦良好,对于配线材料之腐蚀性亦小,而且即使溶于蚀刻液中之氧化物之浓度为高浓度,也不会发生析出物,且能维持良好的蚀刻速率。 |
申请公布号 |
TW201435144 |
申请公布日期 |
2014.09.16 |
申请号 |
TW102144062 |
申请日期 |
2013.12.02 |
申请人 |
三菱瓦斯化学股份有限公司 |
发明人 |
竹内秀范;夕部邦夫;冈部哲;臼井麻里 |
分类号 |
C23F1/30(2006.01);C23F1/44(2006.01);C01G15/00(2006.01);C23F1/02(2006.01) |
主分类号 |
C23F1/30(2006.01) |
代理机构 |
|
代理人 |
<name>周良谋</name><name>周良吉</name> |
主权项 |
|
地址 |
MITSUBISHI GAS CHEMICAL COMPANY, INC. 日本 |