发明名称 |
驱动能力与晶片终端电阻値自我调校方法及其装置;METHOD AND APPARATUS FOR SELF-CALIBRATION OF DRIVING CAPABILITY AND RESISTANCE OF ON-DIE TERMINATION |
摘要 |
一种驱动能力与晶片终端电阻値自我调校方法及其装置。此装置包括输出介面实体层及环形振荡器。输出介面实体层接收一操作电压。环形振荡器围绕输出介面实体层,以感测输出介面实体层的一工作温度或操作电压以提供一感测结果。输出介面实体层的驱动能力或晶片上终端电阻的电阻値依据感测结果调整。 |
申请公布号 |
TW201436457 |
申请公布日期 |
2014.09.16 |
申请号 |
TW102108490 |
申请日期 |
2013.03.11 |
申请人 |
联咏科技股份有限公司 |
发明人 |
庄曜诚;黄一桓 |
分类号 |
H03H11/28(2006.01);H03K19/0175(2006.01) |
主分类号 |
H03H11/28(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>詹铭文</name><name>叶璟宗</name> |
主权项 |
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地址 |
NOVATEK MICROELECTRONICS CORP. 新竹县新竹科学工业园区创新一路13号2楼 |