发明名称 |
堆叠式半导体结构及成型堆叠式半导体结构之方法;STACKED SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND METHOD OF FORMING A STACKED SEMICONDUCTOR STRUCTURE |
摘要 |
一种堆叠式半导体结构,包括一第一底材、一多层式内连线、复数个金属区段、复数个第一结合特征、一第二底材、一凹洞、一可移动结构及复数个第二结合特征。第一底材具有一电晶体。多层式内连线设置于电晶体上,并且电性连接于电晶体。金属区段设置于多层式内连线上。第一结合特征位于金属区段上。第二底材具有一前表面。凹洞从前表面延伸至第二底材中之一深度之中。可移动结构设置于第二底材之前表面上,并且悬浮于凹洞上。可移动结构具有一介电薄膜、复数个金属单元及一盖介电层。第二结合特征位于盖介电层上,并且电性连接于金属单元。 |
申请公布号 |
TW201436116 |
申请公布日期 |
2014.09.16 |
申请号 |
TW103102884 |
申请日期 |
2014.01.27 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
朱家骅;郑钧文 |
分类号 |
H01L23/02(2006.01);H01L23/52(2006.01) |
主分类号 |
H01L23/02(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>洪澄文</name><name>颜锦顺</name> |
主权项 |
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地址 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 |