发明名称 |
半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME |
摘要 |
在一种制造半导体装置的方法中,系在一基体之一晶胞区域上形成一分离闸极结构,该基体包括该晶胞区域和一逻辑区域。该逻辑区域具有一高压区域、一超高压区域和一低压区域,并且该分离闸极结构包括一第一闸极绝缘层图案、一浮动闸极、一穿隧绝缘层图案和一控制闸极。在该分离闸极结构和该基体上一间隔层形成。该间隔层受到蚀刻以在该分离闸极结构之一侧壁上形成一间隔器,并在该基体之该超高压区域上形成一第二闸极绝缘层图案。系在该基体之该高压区域、该第二闸极绝缘层图案、及该基体之该低压区域中之各者上形成一闸电极。 |
申请公布号 |
TW201436224 |
申请公布日期 |
2014.09.16 |
申请号 |
TW102142436 |
申请日期 |
2013.11.21 |
申请人 |
三星电子股份有限公司 |
发明人 |
柳泰光;权倍成;金龙泰;郑喆浩;崔容硕 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>恽轶群</name><name>陈文郎</name> |
主权项 |
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地址 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 南韩 |