发明名称 半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME
摘要 在一种制造半导体装置的方法中,系在一基体之一晶胞区域上形成一分离闸极结构,该基体包括该晶胞区域和一逻辑区域。该逻辑区域具有一高压区域、一超高压区域和一低压区域,并且该分离闸极结构包括一第一闸极绝缘层图案、一浮动闸极、一穿隧绝缘层图案和一控制闸极。在该分离闸极结构和该基体上一间隔层形成。该间隔层受到蚀刻以在该分离闸极结构之一侧壁上形成一间隔器,并在该基体之该超高压区域上形成一第二闸极绝缘层图案。系在该基体之该高压区域、该第二闸极绝缘层图案、及该基体之该低压区域中之各者上形成一闸电极。
申请公布号 TW201436224 申请公布日期 2014.09.16
申请号 TW102142436 申请日期 2013.11.21
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 柳泰光;权倍成;金龙泰;郑喆浩;崔容硕
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 <name>恽轶群</name><name>陈文郎</name>
主权项
地址 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 南韩