发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Proben
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zur Untersuchung einerProbe mit von einer Neutronen- oder Röntgenstrahlungsquelle (0) emittierter Strahlung(8), die über zumindest eine strahlformende Einheit, zu der von einem Probenhalter (7)getragenen Probe (3) geführt und mit einem Detektor (5) detektiert und in einerAuswerteeinheit (30) ausgewertet wird.Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass vor Beginn der Untersuchung der Probezumindest eine der folgenden Komponenten, nämlich Strahlenquelle (0) und/oderstrahlformende Einheit (1, 2) und/oder Probenhalter (7) und/oder Detektor (5) und/odergegebenenfalls ein dem Detektor (5) vorgeordneter Primärstrahlenfänger (4), relativgegenüber zumindest einer der anderen Komponenten (0, 1, 2, 4, 5, 7) und/oderbezüglich eines vorgegebenen Fixpunktes und/oder bezüglich dem Strahlengang (9) miteiner Steuereinheit (6) über Stellantriebe (11) ausgerichtet und/oder bezüglich ihrerräumlichen Lage eingestellt wird, wobei zur Erstellung einer von der Steuereinheit (6) andie Regelkreise der den jeweiligen Komponenten (0, 1, 2, 4, 5, 7) zugeordnetenStellantriebe (11) abgegebenen Stellgröße, die vom Detektor (5), insbesondere die inzumindest einem vorgegebenen Detektorbereich, gemessene Strahlungsintensitätund/oder ein davon abgeleiteter Wert herangezogen wird.
申请公布号 AT513660(B1) 申请公布日期 2014.09.15
申请号 AT20120050552 申请日期 2012.11.30
申请人 ANTON PAAR GMBH 发明人
分类号 G01N23/201 主分类号 G01N23/201
代理机构 代理人
主权项
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