METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND OPTIMISING AN OPTOELECTRONIC COMPONENT

摘要

Es wird ein Verfahren zur Vermessung mindestens einer auf einem Anschlussträger (100) angeordneten optoelektronischen Komponente (10) beschrieben. Das Verfahren umfasst Anregen eines elektromagnetischen Schwingkreises (38, 39), welcher durch die optoelektronische Komponente (10) und den Anschlussträger (100) gebildet ist, so dass die optoelektronische Komponente (10) zur Emission elektromagnetischer Strahlung (70) angeregt wird, und Messen mindestens einer elektrooptischen Eigenschaft der optoelektronischen Komponente (10).