发明名称 探针量测补偿方法
摘要 本发明是一种探针量测补偿方法,首先建立一探针针头的误差函数;控制该探针针头接触一待测物,记录其接触点座标,并计算各接触点的法线向量,由法线向量取得定位角;将定位角代入误差函数,以计算探针针头对应各接触点法线方向上的误差以作为补偿值;将所得补偿值与待测物的接触点座标进行相加;因此,将所得误差与待测物的接触点座标进行相加之后,即是已经排除探针针头本身的形状误差,而为更精确的待测物表面轮廓。
申请公布号 TWI452258 申请公布日期 2014.09.11
申请号 TW100147250 申请日期 2011.12.20
申请人 财团法人金属工业研究发展中心 高雄市楠梓区高楠公路1001号 发明人 安乃骏;刘彦志;颜圣展
分类号 G01B5/004 主分类号 G01B5/004
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 一种探针量测补偿方法,其包含以下步骤:建立一探针针头的圆轮廓误差函数及球面轮廓误差函数;控制该探针针头接触一待测物,记录其接触点座标,并计算各接触点的法线向量,由法线向量取得定位角;将定位角代入圆轮廓误差函数或球面轮廓误差函数,以计算探针针头对应各接触点法线方向上的误差,以作为补偿值;将所得补偿值与待测物的接触点座标进行相加;其中,建立该圆轮廓误差函数包含以下步骤:控制探针针头在相同的高度下,以其分隔线接触一环规的内表面,并以固定的间隔角度沿环规的内表面接触一圈,且记录所有接触点的座标;执行内插计算,以在相邻接触点之间计算出多个内插点,将所有的内插点与接触点相连,以取得分隔线轮廓;将分隔线轮廓与一标准圆进行比对,计算该分隔线的每个内插点、接触点与该标准圆在径向上的误差距离,该些内插点、接触点与误差距离即建构出圆轮廓误差函数;其中,建立该球面轮廓误差函数包含以下步骤:控制探针针头在一初始高度下,以其分隔线接触一标准球体的上半球面,并沿上半球面接触一圈,以记录探针针头于初始高度时的接触点的座标;执行数次控制探针针头往上垂直位移一段间隔,及水平移动至探针针头的下半部接触上半球面,其中于每一次探针针头环绕接触上半球面时,系记录每一个接触点座标;以及计算每一接触点至一标准球体球心的距离,再将所得距离减去标准球面的半径值而获得一误差值,所有接触点与误差值资料即建构出球面轮廓误差函数。
地址 高雄市楠梓区高楠公路1001号