Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Erfassung zumindest der innen liegenden Geometrieen eines Objekts mittels elektromagnetischer Strahlung

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur berührungslosen Erfassung zumindest der innen liegenden Geometrien eines Objekts mittels elektromagnetischer Strahlung, die in einen zu vermessenden Innenraum des Objekts eingestrahlt wird, wobei Teilstrahlen der Strahlung auf Objektflächen der innen liegenden Geometrien unter einem definierten Polarwinkel zu der Einstrahlrichtung und einem definierten Azimutwinkel zueinander gerichtet werden, die Länge des jeweiligen Teilstrahls von einem Referenzpunkt bis zu der Objektfläche erfasst wird und aus den Längen der Teilstrahlen mindestens eine geometrische Größe des Objekts berechnet wird. Die Strahlung wird in mindestens zwei Teilstrahlen aufgeteilt und zeitgleich werden in einem einzelnen Messvorgang die jeweiligen Längen der jeweiligen Teilstrahlen erfasst, und aus diesen Längen wird die mindestens eine geometrische Größe des Objekts berechnet. Weiterhin betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens.