发明名称 |
Halbleiter-Bauelement und Verfahren zu dessen Herstellung |
摘要 |
Ein Halbleiter-Bauelement weist ein Halbleiter-Substrat mit einer ersten Hauptfläche auf, in der eine Aussparung ausgebildet ist. Ferner weist das Halbleiter-Bauelement eine elektrische Zwischenverbindungsstruktur auf, die an einem Boden der Aussparung vorgesehen ist. In der Aussparung ist ein Halbleiterchip angeordnet. Der Halbleiterchip weist mehrere Chip-Elektroden auf, die der elektrischen Zwischenverbindungsstruktur zugewandt sind. Ferner sind mehrere elektrisch leitende Elemente in der elektrischen Zwischenverbindungsstruktur angeordnet und elektrisch mit den mehreren Chip-Elektroden verbunden. |
申请公布号 |
DE102014103050(A1) |
申请公布日期 |
2014.09.11 |
申请号 |
DE201410103050 |
申请日期 |
2014.03.07 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
STELTENPOHL, ANTON;BAKALSKI, WINFRIED |
分类号 |
H01L23/50;H01L21/60;H01L25/065 |
主分类号 |
H01L23/50 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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