发明名称 一种W波段多端口平面电路测试夹具
摘要 本发明提供一种W波段多端口平面电路测试夹具,该测试夹具至少包括:具有腔体的夹具本体,所述腔体中放置有微带传输线;在所述夹具本体上设置有与所述微带传输线方向一致的第一端口和第二端口;在与所述第一端口、第二端口所在的中心线方向垂直的夹具本体上设置有至少一个第三端口。本发明的测试夹具上设置有多个输入输出端口,夹具腔体内的微带部分可连接需要测试的电路或芯片,易于进行多种不同电路和芯片的测试。将输入输出端的波导接口通过波导到微带的转换结构实现由波导结构到平面电路的转换。本发明可独立通用,易于加工,体积小,损耗小,装卸方便,可轻松的实现高频电路或芯片的测试工作。
申请公布号 CN104034925A 申请公布日期 2014.09.10
申请号 CN201410287392.4 申请日期 2014.06.24
申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 丁金义;吴亮;孙朋飞;孙晓玮;孙芸;佟瑞;钱蓉;汪书娜
分类号 G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 李仪萍
主权项 一种W波段多端口平面电路测试夹具,其特征在于,所述W波段多端口平面电路测试夹具至少包括:具有腔体的夹具本体,所述腔体中放置有微带传输线;在所述夹具本体上设置有与所述微带传输线方向一致的第一端口和第二端口;在与所述第一端口、第二端口所在的中心线方向垂直的夹具本体上设置有至少一个第三端口。
地址 200050 上海市长宁区长宁路865号