发明名称 | 用于测量电特性参数的装置和方法 | ||
摘要 | 用于测量电特性参数的装置,具有将模拟信号转换成第一数字数据的第一转换器单元,其中第一转换器单元是Sigma-Delta调制器;将模拟信号转换成第二数字数据的第二转换器单元,其中第二转换器单元是Sigma-Delta调制器;和至少一个用于对从转换器单元所输出的信号进行处理的分析处理逻辑,其中分析处理逻辑具有至少一个积分环节和连接在所述至少一个积分环节后面的差分环节。根据本发明,分析处理逻辑处理两个转换器单元的数字信号,并且转换器单元分别具有用于时钟信号的输入端,其中设置时钟发生器装置,所述时钟发生器装置以预给定的相互关系为第一转换器单元和第二转换器单元提供时钟。 | ||
申请公布号 | CN101726654B | 申请公布日期 | 2014.09.10 |
申请号 | CN200910179011.X | 申请日期 | 2009.10.09 |
申请人 | 罗伯特.博世有限公司 | 发明人 | F·沃尔茨 |
分类号 | H03M3/02(2006.01)I | 主分类号 | H03M3/02(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 李少丹;李家麟 |
主权项 | 一种用于测量电特性参数的装置(1),具有:将模拟信号(U<sub>in</sub>)转换成第一比特流(MDAT_1)的第一转换器单元(2),其中该第一转换器单元(2)是Sigma‑Delta调制器(2);将模拟信号(U<sub>in</sub>)转换成第二比特流(MDAT_2)的第二转换器单元(4),其中该第二转换器单元(4)是Sigma‑Delta调制器(4);以及至少一个用于对由这些转换器单元(2,4)所输出的比特流(MDAT_1,MDAT_2)进行处理的分析处理逻辑电路(6),其中该分析处理逻辑电路(6)具有至少一个积分环节(12a,12b,12c)和连接在所述至少一个积分环节(12a,12b,12c)后面的差分环节(14b,14c),其特征在于,所述分析处理逻辑电路(6)处理这两个转换器单元(2,4)的比特流(MDAT_1,MDAT_2),并且这些转换器单元(2,4)分别具有用于时钟信号的输入端,其中设置有时钟发生器装置,所述时钟发生器装置以预给定的相互关系为该第一转换器单元(2)和该第二转换器单元(4)提供时钟。 | ||
地址 | 德国斯图加特 |