摘要 |
本发明公开了一种X射线衍射测量热解炭涂层残余应力的方法。目前还没有利用X射线衍射法测量热解炭残余应力的完整技术。本发明的具体步骤:对实验样品进行常规X射线检测,得到衍射全谱,确定衍射峰的最大衍射角度2<img file="2014102435934100004dest_path_image002.GIF" wi="14" he="16" />;采用X射线衍射仪,设定扫描起始角、扫描终止角、扫描步距、扫描速度和计数时间,选取六个方位角<img file="dest_path_image004.GIF" wi="17" he="18" />,测量出实验样品对应每个方位角<img file="531079dest_path_image004.GIF" wi="17" he="18" />的晶面衍射角2<img file="dest_path_image006.GIF" wi="21" he="24" />,计算每个方位角<img file="385902dest_path_image004.GIF" wi="17" he="18" />对应的<img file="dest_path_image008.GIF" wi="46" he="24" />,绘制<img file="dest_path_image010.GIF" wi="29" he="24" />—<img file="103322dest_path_image008.GIF" wi="46" he="24" />离散图,并根据各离散点拟合得到直线斜率<img file="dest_path_image012.GIF" wi="64" he="48" />;计算残余应力值<img file="dest_path_image014.GIF" wi="232" he="48" />,式中:<img file="dest_path_image016.GIF" wi="21" he="26" />为实验样品的弹性模量,<img file="dest_path_image018.GIF" wi="14" he="16" />为实验样品的泊松比;<img file="dest_path_image020.GIF" wi="16" he="24" />为实验样品无应力时的半晶面衍射角。本发明在不破坏涂层的前提下,更简便、准确地得到热解炭涂层的残余应力值。 |