发明名称 一种基于SOI和电铸技术的金属纳米线阵及其制备方法
摘要 本发明提供一种基于绝缘硅(SOI)和电铸技术的金属纳米线阵及其制备方法,该金属纳米线阵的各金属线之间由掺杂硅介质材料填充,其制备流程包括:选取SOI,并在其上下表面各沉积一层氮化硅薄膜;采用光刻及干法刻蚀,在SOI下底面氮化硅膜层上制作一个开口,露出体硅表面;采用氢氧化钾湿法腐蚀,以氮化硅为掩蔽层将露出的体硅表面腐蚀完毕,露出二氧化硅表面;在SOI的上表面涂覆光刻胶,通过光刻和刻蚀制作纳米通孔;将具有纳米通孔的SOI器件电铸,获得掺杂硅包裹的金属线条;采用干法刻蚀将氮化硅去除,并用氢氟酸溶液去除二氧化硅,完成金属纳米线阵的制备。本发明不易损伤,且采用SOI片进行制作,避免了掺杂不均、掺杂层厚度难控制等缺点。
申请公布号 CN102560565B 申请公布日期 2014.09.10
申请号 CN201210027790.3 申请日期 2012.02.07
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 潘丽;岳衢;胡承刚;张铁军;李飞;罗先刚;邱传凯;周崇喜
分类号 C25D1/04(2006.01)I;C25D1/10(2006.01)I;C30B29/02(2006.01)I;C30B29/62(2006.01)I;C30B30/02(2006.01)I;B82Y30/00(2011.01)I;B82Y40/00(2011.01)I 主分类号 C25D1/04(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 李新华;成金玉
主权项 一种基于SOI和电铸技术的金属纳米线阵的制备方法,其特征在于:该方法的步骤如下:步骤1、选择双面抛光的SOI基片,将表面清洗干净;步骤2、在SOI的硅表面和掺杂硅表面分别沉积一层厚度为400~600nm的氮化硅薄膜;步骤3、在SOI下底面的氮化硅膜层上均匀涂覆一层厚度为1~2μm的光刻胶,光刻制作出腐蚀的开口区,并置于烘箱或热板进行坚膜;步骤4、以光刻胶为掩蔽层,采用干法刻蚀将开口区的氮化硅刻蚀完毕,露出下底面的硅表面;步骤5、以氮化硅为掩蔽层,采用湿法腐蚀将露出的下底面体硅腐蚀完毕,露出二氧化硅表面;步骤6、在SOI掺杂硅表面的氮化硅膜层上均匀涂覆光刻胶,用双面对准光刻系统确定图形区在湿法腐蚀的棱台面上,并通过光刻获得光刻胶图形;步骤7、采用干法刻蚀将光刻胶图形传递到SOI的掺杂层和二氧化硅层;步骤8、将具有纳米开孔的SOI器件置于电铸液里电铸,获得掺杂硅包裹的高深宽比亚波长金属线条;步骤9、采用干法刻蚀将氮化硅去除,并用氢氟酸溶液去除二氧化硅,完成金属纳米线阵的制备。
地址 610209 四川省成都市双流350信箱