发明名称 光子上转换器频率响应的测试装置和测试方法
摘要 一种光子上转换器频率响应的测试装置,包括:一计算机控制模块;一光脉冲产生模块,其输入端与计算机控制模块的一输出端连接;一稳压电源,其输入端与计算机控制模块的另一输出端连接;一光子上转换器,其一输入端与稳压电源的输出端连接;一光电探测器,其光响应区接收接收光子上转换器的光输出信号;一采样示波器,其一输入端与光电探测器的输出端连接,另一输入端与光脉冲产生模块的另一输出端连接,其输出端与计算机控制模块的输入端连接。本发明能够实现对此类光子上转换器频率响应特性的检测与分析,为制备响应速度更快的光子上转换器提供检测手段和分析工具,为研制高速红外成像器件奠定基础,本发明还提供一种光子上转换器频率响应的测试方法。
申请公布号 CN104020369A 申请公布日期 2014.09.03
申请号 CN201410200421.9 申请日期 2014.05.13
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 楚新波;关敏;牛立涛;李戈洋;曾一平
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 任岩
主权项 一种光子上转换器频率响应的测试装置,包括:一计算机控制模块;一光脉冲产生模块,其输入端与计算机控制模块的一输出端连接;一稳压电源,其输入端与计算机控制模块的另一输出端连接;一光子上转换器,其一输入端与稳压电源的输出端连接,其光响应区接收光脉冲产生模块的一光输出信号;一光电探测器,其光响应区接收接收光子上转换器的光输出信号;一采样示波器,其一输入端与光电探测器的输出端连接,另一输入端与光脉冲产生模块的另一输出端连接,其输出端与计算机控制模块的输入端连接。
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