发明名称 |
互连结构的制造方法 |
摘要 |
一种互连结构的制造方法,包括:提供插塞;在所述插塞上依次形成阻挡层、低K介质层、硬掩膜低K介质层、氧化层、硬掩膜层和光刻胶层;图形化所述光刻胶层,形成光刻胶图形;以所述光刻胶图形为掩膜蚀刻所述硬掩膜层,形成位于硬掩膜层中、且位于插塞上的开口;去除光刻胶图形,依次蚀刻所述开口露出的氧化层、硬掩膜低K介质层、低K介质层,直至露出所述阻挡层;去除所述硬掩膜层,所述去除工艺相对于氧化层和硬掩膜低K介质层,对硬掩膜层具有较大的选择比;进行清洗;向所述开口中填充导电材料。本发明提供的互连结构的制造方法可提高良率。 |
申请公布号 |
CN102487036B |
申请公布日期 |
2014.09.03 |
申请号 |
CN201010569402.5 |
申请日期 |
2010.12.01 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
发明人 |
周鸣 |
分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种互连结构的制造方法,其特征在于,包括:提供插塞;在所述插塞上依次形成阻挡层、低K介质层、硬掩膜低K介质层、氧化层、硬掩膜层和光刻胶层;图形化所述光刻胶层,形成光刻胶图形;以所述光刻胶图形为掩膜蚀刻所述硬掩膜层,形成位于硬掩膜层中、且位于插塞上的开口;去除光刻胶图形,依次蚀刻所述开口露出的氧化层、硬掩膜低K介质层、低K介质层,直至露出所述阻挡层;去除所述硬掩膜层,所述去除工艺相对于氧化层和硬掩膜低K介质层,对硬掩膜层具有较大的选择比;向所述开口中填充导电材料;其中,所述硬掩膜的材料为氮化钛,所述氧化层的材料为正硅酸乙酯,所述去除所述硬掩膜层的步骤包括:通过氯气等离子体去除所述硬掩膜层。 |
地址 |
100176 北京市大兴区经济技术开发区文昌大道18号 |