发明名称 | 基于支架式光纤光栅的高压电场精确测量方法及装置 | ||
摘要 | 一种光电测量技术领域的基于支架式光纤光栅的高压电场精确测量方法及装置,通过将两条相互贴合制成的复合压电材料置于电场中,且压电材料的厚度方向与待测电场方向一致,然后通过以与复合压电材料相垂直的方式固定两根光纤光栅,且光纤光栅与复合压电材料为点接触,最后通过检测两根光纤光栅的长度变化,计算得到由电场导致的复合压电材料的形变差,并进而获得精确的电场强度和方向。本发明解决了传统光学电场传感器结构复杂,光路调整困难,光学元件分散不易组装和携带等困难,简化了加工工艺,降低了成本,提高了测量精度。 | ||
申请公布号 | CN104020360A | 申请公布日期 | 2014.09.03 |
申请号 | CN201410300570.2 | 申请日期 | 2014.06.27 |
申请人 | 上海交通大学 | 发明人 | 刘庆文;何祖源;樊昕昱;杜江兵;张朕 |
分类号 | G01R29/12(2006.01)I | 主分类号 | G01R29/12(2006.01)I |
代理机构 | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人 | 王毓理;王锡麟 |
主权项 | 一种高压电场的精确测量方法,其特征在于,通过将两条相互贴合制成的复合压电材料置于电场中,且压电材料的厚度方向与待测电场方向一致,然后通过以与复合压电材料相垂直的方式固定两根光纤光栅,且光纤光栅与复合压电材料为点接触,最后通过检测两根光纤光栅的长度变化,计算得到由电场导致的复合压电材料的形变差,并进而获得精确的电场强度和方向。 | ||
地址 | 200240 上海市闵行区东川路800号 |