发明名称 基于“S”形检测试件的五轴数控机床的误差辨识方法
摘要 本发明涉及一种基于“S”形检测试件的五轴数控机床的误差辨识方法。包括如下步骤:步骤1.切削“S”形试件;步骤2.测量步骤1切削后的“S”形试件的法向误差;步骤3.建立“S”形试件法向误差与机床因素的映射关系数据库;步骤4.溯源影响机床精度的主要因素;步骤5.运用BP神经网络量化辨识步骤4中得到的机床因素。本发明的有益效果是:采用该方法不仅能够对机床精度进行评判,而且当机床精度达不到要求时还能给出机床精度的优化方案,从量值上对影响机床精度的机床因素进行调整,从而达到机床高精度的要求。
申请公布号 CN102699761B 申请公布日期 2014.09.03
申请号 CN201210213951.8 申请日期 2012.06.27
申请人 电子科技大学 发明人 杜丽;崔浪浪;赵波;王伟
分类号 B23Q17/00(2006.01)I;G05B19/401(2006.01)I 主分类号 B23Q17/00(2006.01)I
代理机构 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人 温利平
主权项 基于“S”形检测试件的五轴数控机床的误差辨识方法,包括如下步骤:步骤1.切削“S”形试件;步骤2.测量步骤1切削后的“S”形试件的法向误差;步骤3.建立“S”形试件法向误差与机床因素的映射关系数据库,E<sub>i</sub>=(a<sub>i1</sub>,a<sub>i2</sub>,…,a<sub>in</sub>)表示“S”形试件法向误差与机床因素映射关系数据库中第i个因素对应的误差矩阵,n表示误差矩阵中包含的误差值个数;步骤4.溯源影响机床精度的主要因素;步骤5.运用BP神经网络量化辨识步骤4中得到的机床因素;步骤4的具体实现包括如下步骤:步骤41.隶属度计算:针对“S”形试件误差分布结果,选择正态模糊隶属函数进行计算,将步骤2中得到的“S”形试件的法向误差矩阵B=(x<sub>1</sub>,x<sub>2</sub>,…,x<sub>n</sub>)代入公式(1)计算出对于E<sub>i</sub>的隶属度μ<sub>B</sub>;所述公式(1)为<img file="FDA0000497239150000011.GIF" wi="385" he="106" />其中,a为E<sub>i</sub>中的误差值(a<sub>i1</sub>,a<sub>i2</sub>,…,a<sub>in</sub>)中的一项,k为常数,k&gt;0;步骤42.贴近度值计算:为了确定法向误差矩阵B与E<sub>i</sub>的相似程度,将计算出的隶属度μ<sub>B</sub>代入绝对海明公式(2)中计算出对应的贴近度值,按照贴近度最大原则,最终溯源出影响机床精度的主要因素;所述公式(2)为<img file="FDA0000497239150000012.GIF" wi="665" he="135" />
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