发明名称 |
一种MoS<sub>2</sub>薄膜晶体管 |
摘要 |
本发明公开了一种MoS<sub>2</sub>薄膜晶体管,其特征是由下层的基底层、中间的沟道层和上层的栅介质层构成,所述沟道层是单层MoS<sub>2</sub>薄膜,所述基底层由特定厚度SiO<sub>2</sub>构成,所述栅介质层为特定厚度HfO<sub>2</sub>层。本发明可通过改变基底层和栅介质层的厚度来增加晶体管的透射率,从而得到超高光透射率MoS<sub>2</sub>薄膜晶体管,从而增加薄膜晶体管液晶显示器中像素的开口率,提高显示质量,降低功耗。 |
申请公布号 |
CN104022158A |
申请公布日期 |
2014.09.03 |
申请号 |
CN201410227041.4 |
申请日期 |
2014.05.27 |
申请人 |
南昌大学 |
发明人 |
杨方方;刘江涛;刘念华 |
分类号 |
H01L29/786(2006.01)I;H01L29/12(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/786(2006.01)I |
代理机构 |
南昌洪达专利事务所 36111 |
代理人 |
刘凌峰 |
主权项 |
一种MoS<sub>2</sub>薄膜晶体管,由SiO<sub>2</sub>层作为下层基底层、MoS<sub>2</sub>薄膜作为中间的沟道层和HfO<sub>2</sub>层作为上层栅介质层而构成,SiO<sub>2</sub> 层的折射率为<img file="2014102270414100001dest_path_image002.GIF" wi="16" he="21" />, HfO<sub>2</sub>层的折射率<img file="2014102270414100001dest_path_image004.GIF" wi="18" he="26" />,其特征是SiO<sub>2</sub> 层厚度<img file="2014102270414100001dest_path_image006.GIF" wi="97" he="23" />,HfO<sub>2</sub>层的厚度<img file="2014102270414100001dest_path_image008.GIF" wi="94" he="26" />,其中<img file="2014102270414100001dest_path_image010.GIF" wi="11" he="17" />为透射光的波长,l和m为正整数。 |
地址 |
330000 江西省南昌市红谷滩新区学府大道999号 |