| 发明名称 | 一种密封件直径参数测量装置和测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种密封件直径参数测量装置，其包括密封件直径参数测量台、处理计算机以及控制柜，其中所述密封件直径参数测量台安装在控制柜内部上侧，密封件直径参数测量台包括面阵相机、供应转接板、光学投影屏以及拨杆传输转台，面阵相机位于密封件直径参数测量台内部上侧并与处理计算机相连接，拨杆传输转台包括基板架、拨杆、转轴、电机、内嵌玻璃板、光电传感器以及电机驱动控制器。采用本发明的密封件直径参数测量装置，可以实现密封件的自动供给、定位和分类，准确计算出密封件的内外直径，操作灵活且简单，可给出可视化的处理结果。 | ||
| 申请公布号 | CN104019756A | 申请公布日期 | 2014.09.03 |
| 申请号 | CN201410270613.7 | 申请日期 | 2014.06.17 |
| 申请人 | 西安工业大学 | 发明人 | 雷志勇;高俊钗;王泽民;李翰山;李静;雷鸣 |
| 分类号 | G01B11/08(2006.01)I;G01B11/12(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人 | 葛强;邬玥 |
| 主权项 | 一种密封件直径参数测量装置，其包括密封件直径参数测量台(1)、处理计算机(2)以及控制柜(3)，其中所述密封件直径参数测量台(1)安装在控制柜(3)内部上侧，密封件直径参数测量台(1)包括面阵相机(4)、供应转接板(13)、光学投影屏(6)以及拨杆传输转台，其特征在于：面阵相机(4)位于密封件直径参数测量台(1)内部上侧并由支架(5)支撑，其配置地用于采集密封件在光学投影屏上的成像，支架(5)固定在密封件直径参数测量台(1)的一侧内壁上，该面阵相机(4)与处理计算机(2)相连接，供应转接板(13)固定在密封件直径参数测量台(1)的另一侧内壁上并且倾斜放置，光学投影屏(6)固定在密封件直径参数测量台(1)的侧壁上并位于面阵相机(4)的正下方，拨杆传输转台位于供应转接板(13)和光学投影屏(6)的下方。 | ||
| 地址 | 710021 陕西省西安市未央大学园区学府中路2号 | ||