发明名称 光学薄膜及其制造方法
摘要 本发明提供一种光学薄膜及其制造方法,即使将薄层的光学薄膜卷绕成卷状,也可防止卷偏或卷松,并且可防止黑带故障或薄膜变形故障。将薄膜厚度目标值TM(x)mm设为下式,即,<img file="DDA0000470010310000011.GIF" wi="854" he="172" /></maths>沿薄膜宽度方向每隔0.5mm对所制成的薄膜进行测定,将对其测定值进行绘图而连成的函数设为T(x)mm,以使T(x)处于TM(x)的100±0.8%以内的方式而对厚度分布进行调整。
申请公布号 CN104015350A 申请公布日期 2014.09.03
申请号 CN201410067706.X 申请日期 2014.02.26
申请人 富士胶片株式会社 发明人 松村善仁
分类号 B29C59/04(2006.01)I;C08J5/18(2006.01)I;G02B1/10(2006.01)I;G02B5/30(2006.01)I 主分类号 B29C59/04(2006.01)I
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人 臧建明
主权项 一种光学薄膜的制造方法,其特征在于,包括如下步骤:当将自薄膜宽度方向的两端算起进入3mm的部位的厚度的平均值设为Ts mm,将自所述薄膜宽度方向的一端算起的位置设为x mm,将所述薄膜宽度设为W mm,将在所述薄膜两端经滚花加工而成的滚花的高度设为R mm时,将作为它们的函数而表示的薄膜厚度目标值TM(x)mm设为下式,即,<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>TM</mi><mrow><mo>(</mo><mi>x</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mo>-</mo><mfrac><mrow><mn>2</mn><mi>R</mi></mrow><mrow><mn>5</mn><msup><mi>W</mi><mn>2</mn></msup></mrow></mfrac><msup><mrow><mo>(</mo><mi>x</mi><mo>-</mo><mfrac><mi>W</mi><mn>2</mn></mfrac><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></msup><mo>+</mo><msub><mi>T</mi><mi>s</mi></msub><mo>+</mo><mfrac><mi>R</mi><mn>10</mn></mfrac><mo>,</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000470010280000011.GIF" wi="845" he="164" /></maths>沿所述薄膜宽度方向每隔0.5mm对所制成的薄膜进行测定,将对其测定值进行绘图而连成的函数设为T(x)mm,以使T(x)处于TM(x)的(100±0.8)%以内的方式而对厚度分布进行调整。
地址 日本东京港区西麻布二丁目26番30号