发明名称 |
一种变口径管磨粒流超精密抛光测控系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种变口径管磨粒流超精密抛光测控系统,应用于液压站上,包括直线位移测控单元、流量测控单元、压力测控单元、温度测控单元,直线位移测控单元由第一限位开关、第二限位开关、钢制指针、光栅尺及数据采集系统组成,钢制指针安装于第一限位开关和第二限位开关之间,所述光栅尺位于所述钢制指针的侧方并与数据采集系统连接,用于检测位移测量信号,并将位移测量信号发送给数据采集系统。本实用新型公开的测控系统,可以对变口径管等密闭空间的零件光整加工,使磨料与变口径管通道实现碰撞接触,实现磨粒流超精密抛光。 |
申请公布号 |
CN203804790U |
申请公布日期 |
2014.09.03 |
申请号 |
CN201420147184.X |
申请日期 |
2014.03.28 |
申请人 |
长春理工大学 |
发明人 |
李俊烨;张心明;朱立峰;赵伟宏;刘薇娜;杨立峰 |
分类号 |
B24B49/00(2012.01)I;B24B51/00(2006.01)I;B24B1/00(2006.01)I |
主分类号 |
B24B49/00(2012.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种变口径管磨粒流超精密抛光测控系统,应用于液压站上,其特征在于,包括直线位移测控单元、流量测控单元、压力测控单元、温度测控单元,直线位移测控单元由第一限位开关、第二限位开关、钢制指针、光栅尺及数据采集系统组成,钢制指针安装于第一限位开关和第二限位开关之间,所述光栅尺位于所述钢制指针的侧方并与数据采集系统连接,用于检测位移测量信号,并将位移测量信号发送给数据采集系统。 |
地址 |
130022 吉林省长春市卫星路7089号长春理工大学 |