发明名称 | 用于分析半透明或透明曲壁上的标记的方法及光学设备 | ||
摘要 | 本发明涉及一种通过具有照明表面(S)的光源(5)和通过具有光学观察轴(A)的照相机(6)对制造在由半透明或透明材料制成的曲壁(3)的外表面(3i)上的标记(2)进行分析的方法,其特征在于:制造宽阔和均匀的光源,使得:所述光源(5)的照明表面(S)的虚像(S1)的区域完全覆盖所述标记(2)的表面,以及使得所述光源(5)的照明表面(S)的虚像(S1)的亮度是均匀的;以及观察位于所述虚像(S1)的表面上的所述标记(2)的表面,从而能够分析所述标记(2)。 | ||
申请公布号 | CN102084377B | 申请公布日期 | 2014.09.03 |
申请号 | CN200980126224.4 | 申请日期 | 2009.07.07 |
申请人 | 蒂阿马公司 | 发明人 | G·巴特莱;M·勒孔特 |
分类号 | G06K7/10(2006.01)I | 主分类号 | G06K7/10(2006.01)I |
代理机构 | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人 | 程伟;靳强 |
主权项 | 一种使用具有照明表面(S)的光源(5)和存在观察光轴(A)的照相机(6)对制造在由半透明或透明材料制成的曲壁(3)的外部定向反射面(31)上的标记(2)进行分析的方法,该方法的特征在于:·通过以下方式使所述光源宽阔和均匀:·首先,所述光源(5)的照明表面(S)的虚像(S')的范围完全覆盖所述标记(2)的表面;以及·所述光源(5)的照明表面(S)的虚像(S')的亮度是均匀的;以及·观察重叠在所述虚像(S')的表面上的所述标记(2)的表面,其中所述标记(2)看起来是暗的,所述虚像(S')的表面是暗淡的,从而能够分析所述标记(2)。 | ||
地址 | 法国瓦朗斯 |