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三族氮化物半导体之制造方法
摘要
一种三族氮化物半导体制造方法,包含下列步骤:形成一第一图案化遮罩层于一磊晶基板,第一图案化遮罩层具有复数第一开口;磊晶生长一三族氮化物半导体层于该磊晶基板之上并覆盖至少部份第一图案化遮罩层;蚀刻三族氮化物半导体层以形成复数第二开口,该等第二开口系实质上至少部份对位于该等第一开口;以及再次磊晶生长三族氮化物半导体层。
申请公布号
TWI451480
申请公布日期
2014.09.01
申请号
TW099134433
申请日期
2010.10.08
申请人
中央研究院 台北市南港区研究院路2段128号
发明人
程育人;罗明华;郭浩中
分类号
H01L21/205
主分类号
H01L21/205
代理机构
代理人
刘正格 台北市中山区中山北路1段53巷20号之1
主权项
一种三族氮化物半导体制造方法,包含下列步骤:形成一第一图案化遮罩层于一磊晶基板,该第一图案化遮罩层具有复数第一开口;磊晶生长一三族氮化物半导体层于该磊晶基板之上并覆盖至少部分该第一图案化遮罩层;蚀刻该三族氮化物半导体层以形成复数第二开口,该等第二开口系实质上至少部分对位于该等第一开口;以及再次磊晶生长该三族氮化物半导体层。
地址
台北市南港区研究院路2段128号
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