发明名称 翻转测试模组及其测试系统
摘要 一种翻转测试模组及其测试系统。翻转测试模组包含至少一容置装置(例如插槽),用以暂时容置受测元件。翻转测试模组还包含翻转机构,用以对受测元件进行一或多轴向的翻转。翻转测试模组结合检选分类机台(handler)及测试机台(tester)而组合成翻转测试系统。其中,检选分类机台拾取及置放受测元件至翻转测试模组,而测试机台则分别控制翻转测试模组及检选分类机台。
申请公布号 TWI451100 申请公布日期 2014.09.01
申请号 TW098105496 申请日期 2009.02.20
申请人 京元电子股份有限公司 新竹市公道五路2段81号 发明人 倪建青;徐培伦;赖茂德
分类号 G01R31/26;B65G47/90 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 陈达仁 台北市中山区长春路156号5楼
主权项 一种翻转测试模组,包含:至少一容置装置,用以暂时容置一受测元件;一元件介面板(DIB)与一测试机台电性连接,其提供一电气介面用以让该受测元件的讯号得以传送至该翻转测试模组的其余部分,而做为该受测元件与该测试机台之间的讯号传递,使得该受测元件可于该容置装置中进行测试;及一翻转机构,用以使该容置装置进行一或多轴向的翻转,而带动该容置装置中的该受测元件进行一或多轴向的翻转。
地址 新竹市公道五路2段81号