发明名称 |
触控点感测方法 |
摘要 |
一种触控点感测方法包括的步骤有:提供一储存区;于第一时间点时侦测相应于一个触控点的第一数值;于第一数值超出第一临界值时,使储存区中对应于触控点的判断参数的值加一;于第一数值不超出第一临界值时,使储存区中对应于触控点的判断参数的值归零;及于判断参数的值到达第二临界值时,判定对应的触控点为被触碰的状态。藉此,可改善触控点感测过程的杂讯干扰问题。 |
申请公布号 |
TWI451303 |
申请公布日期 |
2014.09.01 |
申请号 |
TW100135924 |
申请日期 |
2011.10.04 |
申请人 |
友达光电股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行二路1号 |
发明人 |
李秉寰;何程翔;许育民 |
分类号 |
G06F3/041;G06F3/01 |
主分类号 |
G06F3/041 |
代理机构 |
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代理人 |
郭晓文 台北市文山区罗斯福路6段407号4楼 |
主权项 |
一种触控点感测方法,包括有下列步骤:提供一储存区;于一第一时间点时侦测相应于一触控点的一第一数值;于该第一数值超出一第一临界值时,使该储存区中对应于该触控点的一判断参数的值加一;于该第一数值不超出该第一临界值时,使该储存区中对应于该触控点的该判断参数的值归零;及于该判断参数的值到达一第二临界值时,判定对应的该触控点为被触碰的状态,其中,于该判断参数的值不为零,且该第一时间点所对应的该第一数值与一第二时间点所对应的该第一数值的差值小于等于一门槛值时,则将该判断参数的值加一。 |
地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行二路1号 |