发明名称 透镜测量装置、透镜测量方法及透镜制造方法
摘要 本发明提供了一种透镜测量装置、透镜测量方法及透镜制造方法。;透镜测量装置(1)包括:在以不改变透镜(7)的状态的方式支撑该透镜(7)的情况下使该透镜(7)在XY平面内移动的移动台(3),对藉着移动台(3)移动的透镜(7)的一个透镜面(71)上的点在Z轴方向上的位置进行测量的第一位置量规(4),对藉着移动台(3)移动的透镜(7)的另一个透镜面(72)上的点在Z轴方向上的位置进行测量的第二位置量规(5),以及根据利用移动台(3)使透镜(7)产生移动的移动量、以及第一及第二位置量规(4、5)的测量结果求出透镜(7)的形状的控制装置(10)。因此,能够以高精度且高效的方式测量透镜的形状。
申请公布号 TWI451065 申请公布日期 2014.09.01
申请号 TW098109778 申请日期 2009.03.25
申请人 松下电器产业股份有限公司 日本 发明人 田中慎治;小西章雄
分类号 G01B5/20;G01B5/06 主分类号 G01B5/20
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种透镜测量装置,其包含:测量台;透镜移动部,其包括X轴移动台及Y轴移动台,而使透镜于XY轴之平面内移动;第一位置测量机构,其相对于前述测量台而固定设置,且包含量规头,该量规头系伴随前述透镜的移动而于与前述平面交叉之Z轴方向进退自如地维持与前述透镜之一个面之接触,该第一位置测量机构测量该接触点之Z轴方向之位置;第二位置测量机构,其相对于前述测量台而固定设置,且包含量规头,该量规头系伴随前述透镜的移动而于与前述平面交叉之Z轴方向进退自如地维持与前述透镜之另一个面之接触,该第二位置测量机构测量该接触点之Z轴方向之位置;及透镜形状计算部,其根据由前述透镜移动部所导致之前述透镜之X轴方向及Y轴方向的移动量、以及前述第一及第二位置测量机构的测量结果求出前述透镜的形状;前述第一及第二位置测量机构只需藉由前述X轴移动台及前述Y轴移动台之驱动来使前述透镜于XY轴之平面内移动,就藉此量测前述透镜之一个面及另一个面的两个面上的与前述X轴方向及前述Y轴方向之移动量对应之任意的XY座标的点之Z轴方向之位置。
地址 日本