| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Markierung einer Oberfläche (3, 4, 6, 12) eines dreidimensionalen Untersuchungsobjekts (1) mit einer Projektionsvorrichtung (2), umfassend die Schritte eines Erfassens von Reliefdaten (RD) der Oberfläche (3, 4, 6, 12), eines Festlegens einer Maßinformationsmarkierung (5), eines Bestimmens eines Referenzlagewerts (v), welcher eine Lage einer Abstrahleinrichtung (8, 9) relativ zur Oberfläche (3, 4, 6, 12) repräsentiert, eines Berechnens einer Vorverzerrung der festgelegten Maßinformationsmarkierung (5) in Abhängigkeit von den Reliefdaten (RD) und dem Referenzlagewert (v), sowie eines Abstrahlens der vorverzerrten Maßinformationsmarkierung (5) von der Abstrahleinrichtung (8, 9) in Richtung der Oberfläche (3, 4, 6, 12). Außerdem betrifft die Erfindung eine Projektionsvorrichtung (2) zur Durchführung eines solchen Verfahrens. Darüber hinaus betrifft die Erfindung ein medizintechnisches Bildgebungssystem (13) mit einer derartigen Projektionsvorrichtung (2). |
