发明名称 | 晶圆级封装 | ||
摘要 | 一种晶圆级封装的方法包括:提供具有埋氧层和顶部氧化层的基板,以及蚀刻基板,以在埋氧层上形成开口和在开口之间形成微型机电系统(MEMS)谐振器元件,MEMS谐振器元件被包围在埋氧层,顶部氧化层,以及侧壁氧化层中。该方法进一步包括:使用多晶硅填充开口,以形成邻近MEMS谐振器元件的多晶硅电极,移除邻近MEMS谐振器元件的顶部氧化层和侧壁氧化层,将多晶硅电极与互补金属氧化物半导体(CMOS)晶圆或载具晶圆之一接合,移除邻近MEMS谐振器元件的埋氧层,以及将基板与盖晶圆接合,以密封CMOS晶圆或载具晶圆之一和盖晶圆之间的MEMS谐振器元件。 | ||
申请公布号 | CN102398888B | 申请公布日期 | 2014.08.27 |
申请号 | CN201110268843.6 | 申请日期 | 2011.09.07 |
申请人 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 发明人 | 郑钧文;林宗贤;朱家骅 |
分类号 | H01L21/00(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京德恒律师事务所 11306 | 代理人 | 陆鑫;高雪琴 |
主权项 | 一种晶圆级封装的方法,包括:提供包括埋氧层和顶部氧化层的基板;蚀刻所述基板,以在所述埋氧层上形成多个开口,并且在所述开口之间形成微型机电系统MEMS谐振器元件,所述MEMS谐振器元件围在所述埋氧层,所述顶部氧化层以及侧壁氧化层内;用多晶硅填充所述开口,以形成邻近MEMS谐振器元件的多晶硅电极;移除顶部氧化层和邻近MEMS谐振器元件的侧壁氧化层;将所述多晶硅电极与互补金属氧化物半导体CMOS晶圆或载具晶圆之一相接合;移除邻近所述MEMS谐振器元件的所述埋氧层;以及将所述基板与盖晶圆接合,以密封所述CMOS晶圆或所述载具晶圆之一和所述盖晶圆之间的所述MEMS谐振器元件。 | ||
地址 | 中国台湾新竹 |