发明名称 |
一种具有阈开关效应的多铁陶瓷半导体器件 |
摘要 |
本实用新型公开了一种具有阈开关效应的多铁陶瓷半导体器件。该陶瓷半导体器件是由导电下电极层、多铁陶瓷半导体和上电极薄膜层组成;其中所述的上下电极为Pt、Au或Al导电薄膜;所述的陶瓷半导体是Mg元素掺杂的BiFeO<sub>3</sub>陶瓷或缺氧的BiFeO<sub>3</sub>陶瓷。多铁陶瓷半导体采用改进的快速烧结技术合成,以高纯度Bi<sub>2</sub>O<sub>3</sub>、Fe<sub>2</sub>O<sub>3</sub>和掺杂氧化物为原料,充分混合后在特定的压强下压片成型;经过高温预烧结和快速烧结后,沉积上下电极薄膜层。本实用新型的多铁半导体器件具有优异的阈开关效应,利用受主离子在Fe位的掺杂,可以便利地调控阈值电压,并实现室温下低电场阈开关效应。本实用新型将对提高存储器件的设计灵活度具有重要的意义。 |
申请公布号 |
CN203800052U |
申请公布日期 |
2014.08.27 |
申请号 |
CN201420054091.2 |
申请日期 |
2014.01.28 |
申请人 |
天津师范大学 |
发明人 |
王守宇;刘卫芳;席晓鹃;王海菊;王旭;郭峰 |
分类号 |
H01L29/06(2006.01)I;H01L29/12(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/06(2006.01)I |
代理机构 |
天津市杰盈专利代理有限公司 12207 |
代理人 |
朱红星 |
主权项 |
一种具有阈开关效应的多铁陶瓷半导体器件,包括导电下电极(1)、多铁半导体陶瓷层(2)、上电极薄膜层(3);其特征在于多铁半导体陶瓷层(2)置于导电下电极(1)和上电极薄膜层(3)之间;其中导电下电极(1)为Pt、Au或Al导电薄膜中的一种;所述的多铁半导体陶瓷层(2)为缺氧的BiFeO<sub>3</sub>。 |
地址 |
300387 天津市西青区宾水西道393号 |