主权项 |
一种用于测定材料光学特性的设备,包括具有第一辐射装置(4)的第一测量装置(2),第一辐射装置(4)以第一特定辐射角将辐射引导到材料(10)上,所述第一测量装置(2)还具有第一辐射探测装置(6),第一辐射探测装置(6)与材料(10)成第一接收角放置,并接收至少部分第一辐射装置(4)引导到材料上和从材料(10)上散射回的辐射,同时,第一辐射探测装置(6)发出第一特征信号,所述第一特征信号反映了射在第一辐射探测装置(4)上的辐射强度的特征;其特征在于,所述设备(1)还包括具有第二辐射装置(14)的第二测量装置(12),所述第二辐射装置以第二特定辐射角将辐射引导到材料(10)上,第二测量装置(12)具有第二辐射探测装置(16),所述第二辐射探测装置(16)与材料成一定接收角放置,并接收至少部分由第二辐射装置(14)引导到材料上和从材料(10)上散射回的辐射,第二辐射探测装置(16)允许对入射辐射进行局部分解评价,并发出至少一个第二特征信号,所述至少一个第二特征信号反映了射在第二辐射探测装置(16)上的辐射的特征;其中所述设备(1)具有处理器件,所述处理器件基于对所述第一特征信号和所述至少一个第二特征信号的考虑,输出反映表面特征的值(E);其中可以建立或者获取将相应的折射率分配到所述第一特征信号的基础表,考虑将各个所述至少一个第二特征信号用于所述分配。 |