发明名称 一种垂直结构LED芯片的制作方法
摘要 本发明涉及一种垂直结构LED芯片的制作方法,包括:提供第一衬底,在所述第一衬底上依次形成缓冲层、N型氮化镓层、有源层以及P型氮化镓层以及金属反射层;提供第二衬底,将所述第一衬底倒置于所述第二衬底上,并利用金属焊料层将所述第二衬底的一面与金属反射层键合固定;将所述第二衬底的另一面固定于一载台上;对所述第一衬底和缓冲层进行初步粗磨和物理研磨,直至剩余部分第一衬底,剩余的第一衬底厚度小于10μm;对所述第一衬底进行化学机械研磨,直至暴露所述N型氮化镓层。本发明能够提高垂直结构LED芯片在剥离衬底时生产效率和芯片良率。
申请公布号 CN102403434B 申请公布日期 2014.08.27
申请号 CN201110376631.X 申请日期 2011.11.23
申请人 杭州士兰明芯科技有限公司 发明人 张昊翔;金豫浙;江忠永
分类号 H01L33/44(2010.01)I;H01L33/12(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I 主分类号 H01L33/44(2010.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 郑玮
主权项 一种垂直结构LED芯片的制作方法,包括:提供第一衬底,在所述第一衬底上依次形成缓冲层、N型氮化镓层、有源层以及P型氮化镓层以及金属反射层;提供第二衬底,将所述第一衬底倒置于所述第二衬底上,并利用金属焊料层将所述第二衬底的一面与金属反射层键合固定;将所述第二衬底的另一面固定于一载台上;对所述第一衬底进行初步粗磨和物理研磨,直至剩余部分第一衬底,其中:在进行初步粗磨和物理研磨的过程中,初步粗磨后剩余的第一衬底厚度为10~50um,接着物理研磨剩余的第一衬底,剩余的第一衬底的厚度范围为小于10um,在进行物理研磨的过程中:采用分步研磨法,设定分步研磨阶段,每一阶段的工作时间可以相同或不同,均要满足工作时间段内研磨的厚度小于10um;在研磨完成一阶段之后即停止工作,测量剩余第一衬底的厚度,直到剩余的所述第一衬底的厚度范围满足小于10um,停止物理研磨步骤;对所述第一衬底和缓冲层进行化学机械研磨,直至暴露所述N型氮化镓层。
地址 310018 浙江省杭州市杭州经济技术开发区白杨街道10号大街300号1幢1层