一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法

摘要

本发明公开了一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法，通过采用函数模型，即拟合曲线y=a/(K-x)+b来对吸波涂层的厚度进行计算，测量出吸波涂层的厚度y。a、K和b为需要确定的系数，校准的目的就是确定这三个系数。对于确定厚度范围的吸波涂层，并在一定硬件条件下，由这三个参数即可比较准确地计算涂层厚度，同时，采用本发明的校准方法得到的这三个参数很好的反映了电压值x和涂层厚度y的关系。因此，吸波涂层测厚仪的测量精度。

主权项

一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）、校准时，使用厚度为y_i标准吸波涂层块，采集对应的反映吸波涂层厚度的电压值x_i，得到数据组(x_i,y_i)，其中i=1,2,...,n，n为数据组数量，由数据组(x_i,y_i)计算得到乘积z_i=x_i．y_i；首先令$A=\left(\begin{array}{c}{x}_1,z_1,1\\ x_2,z_2,1\\ ...\\ x_n,z_n,1\end{array}\right),B=\left(\begin{array}{c}{y}_1\\ y_2\\ ...\\ y_n\end{array}\right)$解线性方程组$\left(A^{T}A\right)·\left(\begin{array}{c}D\\ E\\ F\end{array}\right)=A^{T}B,$$\left(\begin{array}{c}D\\ E\\ F\end{array}\right),$其中，矩阵A^T为矩阵A的转置矩阵；然后，通过算式G=1/E，b=‑D．G,a=G．(F‑b)，求得参数：a、b、G；（2）、测量时，根据采集到的反映吸波涂层厚度的电压值x，通过拟合曲线y=a/(G‑x)+b，计算出吸波涂层的厚度y。