发明名称 集成无源器件晶圆级封装三维堆叠结构及制作方法
摘要 本发明涉及一种集成无源器件晶圆级封装三维堆叠结构及制作方法,包括晶圆级封装芯片和IPD芯片;所述IPD芯片包括玻璃基板,玻璃基板正面设置IPD器件和金属布线层;在所述玻璃基板的背面刻蚀形成TGV孔,在玻璃基板的背面和TGV孔内表面设置背面金属布线层,在背面金属布线层的焊盘上设置焊球,焊球与PCB板连接。所述三维堆叠结构的制作方法,包括以下步骤:(1)将晶圆级封装芯片和玻璃基板的IPD芯片进行堆叠;(2)在IPD芯片背面刻蚀TGV孔,在玻璃基板背面制作背面金属布线层;(3)将背面金属布线层刻蚀成绝缘的两部分;在两部分背面金属布线层上制作焊盘和焊球,通过焊球连接PCB板。本发明实现芯片和IPD器件之间的短距离互连,提升了电学质量。
申请公布号 CN104009014A 申请公布日期 2014.08.27
申请号 CN201410173160.6 申请日期 2014.04.26
申请人 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 发明人 何洪文;孙鹏
分类号 H01L23/488(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L25/16(2006.01)I 主分类号 H01L23/488(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 殷红梅
主权项  一种集成无源器件晶圆级封装三维堆叠结构,包括晶圆级封装芯片(2)和IPD芯片(3);其特征是:所述IPD芯片(3)包括玻璃基板(4),在玻璃基板(4)的正面设置IPD器件(5)和连接IPD器件(5)的金属布线层(6),金属布线层(6)与晶圆级封装芯片(2)的芯片信号端口(11)连接;在所述玻璃基板(4)的背面刻蚀形成TGV孔(7),TGV孔(7)直达金属布线层(6);在所述玻璃基板(4)的背面和TGV孔(7)的内表面设置背面金属布线层(8),背面金属布线层(8)分为相互绝缘的两部分,该两部分背面金属布线层(8)分别与金属布线层(6)连接,并分别在两部分背面金属布线层(8)的焊盘(9)上设置焊球(10),焊球(10)与PCB板(1)连接。
地址 214135 江苏省无锡市新区太湖国际科技园菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋(微纳创新园)