发明名称 |
集成无源器件晶圆级封装三维堆叠结构及制作方法 |
摘要 |
本发明涉及一种集成无源器件晶圆级封装三维堆叠结构及制作方法,包括晶圆级封装芯片和IPD芯片;所述IPD芯片包括玻璃基板,玻璃基板正面设置IPD器件和金属布线层;在所述玻璃基板的背面刻蚀形成TGV孔,在玻璃基板的背面和TGV孔内表面设置背面金属布线层,在背面金属布线层的焊盘上设置焊球,焊球与PCB板连接。所述三维堆叠结构的制作方法,包括以下步骤:(1)将晶圆级封装芯片和玻璃基板的IPD芯片进行堆叠;(2)在IPD芯片背面刻蚀TGV孔,在玻璃基板背面制作背面金属布线层;(3)将背面金属布线层刻蚀成绝缘的两部分;在两部分背面金属布线层上制作焊盘和焊球,通过焊球连接PCB板。本发明实现芯片和IPD器件之间的短距离互连,提升了电学质量。 |
申请公布号 |
CN104009014A |
申请公布日期 |
2014.08.27 |
申请号 |
CN201410173160.6 |
申请日期 |
2014.04.26 |
申请人 |
华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
发明人 |
何洪文;孙鹏 |
分类号 |
H01L23/488(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L25/16(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/488(2006.01)I |
代理机构 |
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 |
代理人 |
殷红梅 |
主权项 |
一种集成无源器件晶圆级封装三维堆叠结构,包括晶圆级封装芯片(2)和IPD芯片(3);其特征是:所述IPD芯片(3)包括玻璃基板(4),在玻璃基板(4)的正面设置IPD器件(5)和连接IPD器件(5)的金属布线层(6),金属布线层(6)与晶圆级封装芯片(2)的芯片信号端口(11)连接;在所述玻璃基板(4)的背面刻蚀形成TGV孔(7),TGV孔(7)直达金属布线层(6);在所述玻璃基板(4)的背面和TGV孔(7)的内表面设置背面金属布线层(8),背面金属布线层(8)分为相互绝缘的两部分,该两部分背面金属布线层(8)分别与金属布线层(6)连接,并分别在两部分背面金属布线层(8)的焊盘(9)上设置焊球(10),焊球(10)与PCB板(1)连接。 |
地址 |
214135 江苏省无锡市新区太湖国际科技园菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋(微纳创新园) |