发明名称 金属连线短路测试结构
摘要 本实用新型提出了一种金属连线短路测试结构,包括块形金属连线、条形金属连线和形成于两者之间的介质层,并且一部分区域条形金属连线的下方有块形金属连线,另一部分区域的条形金属连线的下方全部为介质层,条形金属连线分为保持隔离的两部分;从而模拟实际生产中化学机械研磨由金属连线密度不同造成的凹陷,凹陷造成的上方条形金属连线短路的现象,然后通过测试条形金属连线的电阻值,依照其电阻值的大小来判断条形金属连线之间是否存在短路,进而判断化学机械研磨造成的凹陷对金属连线是否存在短路的影响。
申请公布号 CN203800039U 申请公布日期 2014.08.27
申请号 CN201420148819.8 申请日期 2014.03.28
申请人 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 发明人 王喆
分类号 H01L23/544(2006.01)I 主分类号 H01L23/544(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种金属连线短路测试结构,其特征在于,所述测试结构包括至少一层块形金属连线、至少一层介质层和多个条形金属连线,其中,所述介质层形成于所述条形金属连线和块形金属连线之间,所述条形金属连线位于所述介质层和块形金属连线之上,一部分区域的条形金属连线的下方有块形金属连线,另一部分区域的条形金属连线的下方全部为介质层,所述条形金属连线分为保持隔离的两部分。
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