发明名称 |
金属连线短路测试结构 |
摘要 |
本实用新型提出了一种金属连线短路测试结构,包括块形金属连线、条形金属连线和形成于两者之间的介质层,并且一部分区域条形金属连线的下方有块形金属连线,另一部分区域的条形金属连线的下方全部为介质层,条形金属连线分为保持隔离的两部分;从而模拟实际生产中化学机械研磨由金属连线密度不同造成的凹陷,凹陷造成的上方条形金属连线短路的现象,然后通过测试条形金属连线的电阻值,依照其电阻值的大小来判断条形金属连线之间是否存在短路,进而判断化学机械研磨造成的凹陷对金属连线是否存在短路的影响。 |
申请公布号 |
CN203800039U |
申请公布日期 |
2014.08.27 |
申请号 |
CN201420148819.8 |
申请日期 |
2014.03.28 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
发明人 |
王喆 |
分类号 |
H01L23/544(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/544(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种金属连线短路测试结构,其特征在于,所述测试结构包括至少一层块形金属连线、至少一层介质层和多个条形金属连线,其中,所述介质层形成于所述条形金属连线和块形金属连线之间,所述条形金属连线位于所述介质层和块形金属连线之上,一部分区域的条形金属连线的下方有块形金属连线,另一部分区域的条形金属连线的下方全部为介质层,所述条形金属连线分为保持隔离的两部分。 |
地址 |
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区(亦庄)文昌大道18号 |