发明名称 一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法
摘要 本发明公开了一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法,该方法包括设计磁路仿真模型、编写仿真程序、设计影响因子水平表并生成正交试验表、执行仿真程序并得到仿真结果、计算漏磁信号、进行相关数据统计分析、得到最优磁路设计等步骤。本发明结合漏磁检测系统磁路优化设计,基于大量数学分析和仿真,提出了一种新的磁路优化方法,其能够在有限的试验次数获得与遍历试验相似的试验结果,节省了计算时间和大规模的数据处理,提高了磁路优化的准确性和效率。
申请公布号 CN104008251A 申请公布日期 2014.08.27
申请号 CN201410259480.3 申请日期 2014.06.12
申请人 北京华航无线电测量研究所 发明人 高雯;郑莉;许振丰;徐玉峰
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人 胡时冶;白海燕
主权项 一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:步骤1:设计磁路仿真模型;步骤2:编写仿真程序;步骤3:设计影响因子水平表,并根据水平数和影响因子数计算生成正交试验表;步骤4:根据正交试验表,执行仿真程序并得到仿真结果;步骤5:在仿真结果中选取漏磁信号大小作为衡量标准,计算漏磁信号;步骤6:进行四种数据的统计分析,其中,在正交试验表中添加仿真结果,根据仿真结果进行极差分析、平方和计算、F比计算、因子贡献率四种数据的统计分析;以及步骤7:得到最优磁路设计。
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