发明名称 | 半导体装置及半导体装置的制造方法 | ||
摘要 | 本发明的目的是提高半导体装置中的贴片的可靠性。本发明的半导体装置具有:在背面侧形成了金属镀层的半导体元件、与半导体元件隔开间隔并平行配置着的金属制的引线框架、设在半导体元件与引线框架之间并接合在金属镀层上的第1接合层、和设在半导体元件与引线框架之间并将第1接合层和引线框架接合的第2接合层。第1接合层的部朝着引线框架鼓出。 | ||
申请公布号 | CN104011843A | 申请公布日期 | 2014.08.27 |
申请号 | CN201380004427.2 | 申请日期 | 2013.01.10 |
申请人 | 三菱电机株式会社 | 发明人 | 藤野纯司 |
分类号 | H01L21/52(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/52(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 吕晓阳 |
主权项 | 一种半导体装置,具有:在背面侧形成了金属镀层的半导体元件;与上述半导体元件隔开间隔并平行配置着的金属制的引线框架;第1接合层,设在上述半导体元件与上述引线框架之间,接合于上述金属镀层;以及第2接合层,设在上述半导体元件与上述引线框架之间,将上述第1接合层和上述引线框架接合;其特征在于,上述第1接合层的中央部朝着上述引线框架鼓出。 | ||
地址 | 日本东京 |