发明名称 半导体装置及半导体装置的制造方法
摘要 本发明的目的是提高半导体装置中的贴片的可靠性。本发明的半导体装置具有:在背面侧形成了金属镀层的半导体元件、与半导体元件隔开间隔并平行配置着的金属制的引线框架、设在半导体元件与引线框架之间并接合在金属镀层上的第1接合层、和设在半导体元件与引线框架之间并将第1接合层和引线框架接合的第2接合层。第1接合层的部朝着引线框架鼓出。
申请公布号 CN104011843A 申请公布日期 2014.08.27
申请号 CN201380004427.2 申请日期 2013.01.10
申请人 三菱电机株式会社 发明人 藤野纯司
分类号 H01L21/52(2006.01)I 主分类号 H01L21/52(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 吕晓阳
主权项 一种半导体装置,具有:在背面侧形成了金属镀层的半导体元件;与上述半导体元件隔开间隔并平行配置着的金属制的引线框架;第1接合层,设在上述半导体元件与上述引线框架之间,接合于上述金属镀层;以及第2接合层,设在上述半导体元件与上述引线框架之间,将上述第1接合层和上述引线框架接合;其特征在于,上述第1接合层的中央部朝着上述引线框架鼓出。
地址 日本东京