| 发明名称 | 静电释放检测方法、装置及系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种静电释放检测方法、装置及系统。其中，该方法包括：实时采集接收端的误码数据；判断预设时间段内的误码数据是否符合预设条件；在判断出预设时间段内的误码数据符合预设条件的情况下，确认在预设时间段内发生了静电释放。采用本发明，解决了现有技术中检测静电释放受电源干扰，检测不准确的问题，实现了准确检测静电释放的效果。 | ||
| 申请公布号 | CN104009813A | 申请公布日期 | 2014.08.27 |
| 申请号 | CN201410228455.9 | 申请日期 | 2014.05.27 |
| 申请人 | 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司 | 发明人 | 谢青青;王鑫;赵轶 |
| 分类号 | H04B17/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | H04B17/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 吴贵明;张永明 |
| 主权项 | 一种静电释放检测方法，其特征在于，包括：实时采集接收端的误码数据；判断预设时间段内的误码数据是否符合预设条件；在判断出所述预设时间段内的所述误码数据符合预设条件的情况下，确认在所述预设时间段内发生了静电释放。 | ||
| 地址 | 100086 北京市海淀区中关村南大街2号数码大厦A座28层 | ||