发明名称 一种欠采样速率下的高精度频率测量方法及其测量仪
摘要 本发明公开了一种欠采样速率下的高精度频率测量方法及其测量仪,方法包括:用三谱线内插法进行谱校正,得到谱校正后的L对频率估计值,以及峰值位置校正之后的L对相位信息;结合过零点类型和校正之后的L对相位信息,从L对频率估计值中挑选出L个频率估计值;利用各路谱校正和L个频率估计值,作为余数,再按照闭合解析形式的余数定理重构出原始高频信号的频率。测量仪包括:待测信号首先经过触发电路的过零点检测处理来决定其初始相位,然后经过多路采样频率的模数转化器采样得到样本序列,分别以并行数字输入的形式进入DSP器件,经过DSP器件的内部处理,得到高频信号的频率估计;最后借助输出驱动及其显示电路显示出频率值。
申请公布号 CN104007316A 申请公布日期 2014.08.27
申请号 CN201410236067.5 申请日期 2014.05.29
申请人 天津大学 发明人 黄翔东;丁道贤;孟天伟
分类号 G01R23/16(2006.01)I;G06F19/00(2011.01)I;G01R23/02(2006.01)I 主分类号 G01R23/16(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 温国林
主权项 一种欠采样速率下的高精度频率测量方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:(1)对低速率采样得到的L路信号,分别进行快速傅里叶变换得到幅度谱以及相位谱;(2)找出各路幅度谱中的峰值位置,用三谱线内插法进行谱校正,得到谱校正后的L对频率估计值,以及峰值位置校正之后的L对相位信息;(3)结合过零点类型和校正之后的L对相位信息,从L对频率估计值中挑选出L个频率估计值;(4)利用各路谱校正和L个频率估计值,作为余数,再按照闭合解析形式的中国余数定理对这些余数处理,以重构出原始高频信号的频率f<sub>0</sub>。
地址 300072 天津市南开区卫津路92号