调试电路及具有该调试电路的主板

摘要

本发明涉及一种调试电路及具有该调试电路的主板。该调试电路，用于调整一待测芯片输入的控制信号至一预期数值。该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及至少一信号输出端，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。

主权项

一种调试电路，用于调整一待测芯片输入的控制信号至一预期数值，该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及至少一信号输出端，其特征在于，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。