利用集成开关矩阵测量I-V电路的测试系统

摘要

本实用新型提供一种利用集成开关矩阵测量I-V电路的测试系统，包括驱动器芯片、被测器件和测量装置；驱动器芯片的多个引脚与被测器件的多个引脚以点对点方式连接；测量装置用于产生并将数据载入被测器件中，从被测器件接收数据并测量其输出的模拟电压电平；驱动器芯片的每个引脚上都设置了含静电放电保护装置的驱动器/接收器芯片，以及能够将多个不同电压中的一个电压载入被测器件或者能够接收电平并将该电平载入至被测器件的第一晶体管开关矩阵；测量装置通过第二晶体管开关矩阵连接对应的驱动器芯片引脚。本实用新型针对集成电路，通过切换接地电压和电源电压且在不引起静电放电二极管放电的情况下，更有效地测量更大范围的电压。

主权项

利用集成开关矩阵测量I‑V电路的测试系统，其特征在于，包括驱动器芯片（100）、被测器件（200）和测量装置（300）；驱动器芯片（100）的多个引脚与被测器件（200）的多个引脚以点对点方式连接；测量装置（300）用于产生并将数据载入被测器件（200）中，从被测器件（200）接收数据并测量其输出的模拟电压电平；驱动器芯片（100）的每个引脚上都设置了含静电放电保护装置的驱动器/接收器芯片，以及能够将多个不同电压中的一个电压载入被测器件（200）或者能够接收电平并将该电平载入至被测器件（200）的第一晶体管开关矩阵；测量装置（300）通过第二晶体管开关矩阵连接对应的驱动器芯片引脚。