一种适用于芯片测试的电路

摘要

本实用新型提出一种适用于芯片测试的电路，该电路主要包括依次连接的测试焊盘、1位电平转换电路以及串转并电路，该串转并电路能够实现1位串行信号转n位并行信号；还设置有一控制电路对串转并电路进行控制，使得经1位电平转换电路输出的1位电平信号通过串转并电路转换为m位并行信号输出，这里m≤n。本实用新型采用测试焊盘取代传统的熔丝电路，可以通过外接探针扎到测试焊盘输入不同的信号，只使用1个测试焊盘，便实现了现有技术中n位熔丝电路的功能。

主权项

一种适用于芯片测试的电路，其特征在于：主要包括依次连接的测试焊盘、1位电平转换电路以及串转并电路，该串转并电路能够实现1位串行信号转n位并行信号；还设置有一控制电路对串转并电路进行控制，使得经1位电平转换电路输出的1位电平信号通过串转并电路转换为m位并行信号输出，这里m≤n。