发明名称 具有间隙设定装置之电子元件处理器
摘要 本发明提供一种用于一电子元件处理器的间隙设定装置。该电子元件处理器包含具有安装于其上的一测试附件之一线性轴承。该测试附件可在远离一工具的一第一位置与较接近于该工具的一第二位置之间移动。一设定柱可从该测试附件伸展以便当该测试附件从该第一位置移动至该第二位置时,该设定柱可固定该测试附件与该工具之间的一间隙。
申请公布号 TWI450660 申请公布日期 2014.08.21
申请号 TW097102921 申请日期 2008.01.25
申请人 ESI电子科技(股)公司 美国 发明人 大卫 詹姆斯 麦基尔;马丁 腓德瑞克 班伯格;柏兰 麦可;道J 嘉西亚
分类号 H05K13/08;B65G61/00;G01R31/26;H01L21/66 主分类号 H05K13/08
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种电子元件处理器,其包括:一可移除工具,其系安装在该处理器上,该可移除工具包含用于容纳电子元件之复数个测试座;一测试附件,其系安装于该处理器用于在一第一位置与一第二位置之间的移动,该第一位置中该测试附件系在离开该可移除工具之一表面的末端处,该第二位置中该测试附件系接近该可移除工具之该表面;以及一间隙设定装置,其系安装于该测试附件用于与该测试附件移动且具有一设定柱,该设定柱相对于该测试附件可在位于该测试附件下之一缩回位置及一伸展位置之间移动,当该测试附件系在其第二位置且该设定柱系在其带有接近该可移除工具之该表面之一末端的伸展位置时,该间隙设定装置可运转以界定该测试附件与该可移除工具之间的一间隙。
地址 美国