用于触控面板之位置侦测方法

摘要

一种用于一触控面板之位置侦测方法包括如下步骤：(a)判定与该触控面板之接触于被划分成多个导电区域之一导电膜上之存在或不存在；(b)若步骤(a)判定该接触之该不存在，则量测在该接触之该不存在之该侦测之后的一时间并判定该所量测时间是否小于一预定时间；及(c)若该所量测时间小于该预定时间则判定该接触之持续。

主权项

一种用于触控面板之位置侦测方法，该触控面板系包含被划分成彼此电性绝缘之复数个导电区域之导电膜，该触控面板侦测与该触控面板之接触而产生之物件之移动之轨迹，其特征在于包含如下步骤：(a)判定在该物件与该触控面板接触之接触状态之后，是否侦测出与该触控面板不接触之非接触状态；(b)当于该步骤(a)判定侦测出非接触状态，则量测在该非接触状态之侦测之后的一时间；(c)判定该所量测时间是否小于一第一预定时间；及(d)若该非接触状态与接于该非接触状态之后之另一非接触状态间之所量测出之时间小于该第一预定时间，则输出于该等导电区域中之该毗邻两者间持续之该物件该移动之该轨迹。