发明名称 |
Verfahren zum Herstellen eines strukturierten verformten Substrats, insbesondere zur Herstellung verformter Transistoren mit geringerer Dicke der aktiven Schicht |
摘要 |
Verfahren mit: Bereitstellen einer siliziumenthaltenden Halbleiterschicht über einem Substrat, wobei die siliziumenthaltende Halbleiterschicht eine innere biaxiale Verformung aufweist; Bilden von Isolationsgräben in der siliziumenthaltenden Halbleiterschicht; Verringern einer Dicke der siliziumenthaltenden Halbleiterschicht; Füllen der Isolationsgräben mit einem Opfermaterial vor dem Verringern der Dicke der siliziumenthaltenden Halbleiterschicht; und Füllen der Isolationsgräben mit einem isolierenden Material nachdem das Opfermaterial aus den Isolationsgräben entfernt wurde. |
申请公布号 |
DE102008044983(B4) |
申请公布日期 |
2014.08.21 |
申请号 |
DE20081044983 |
申请日期 |
2008.08.29 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES, INC.;AMD FAB 36 LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG |
发明人 |
HOENTSCHEL, JAN;WEI, ANDY;BEYER, SVEN |
分类号 |
H01L21/8234;H01L21/762;H01L21/84 |
主分类号 |
H01L21/8234 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|