发明名称 Verfahren zum Herstellen eines strukturierten verformten Substrats, insbesondere zur Herstellung verformter Transistoren mit geringerer Dicke der aktiven Schicht
摘要 Verfahren mit: Bereitstellen einer siliziumenthaltenden Halbleiterschicht über einem Substrat, wobei die siliziumenthaltende Halbleiterschicht eine innere biaxiale Verformung aufweist; Bilden von Isolationsgräben in der siliziumenthaltenden Halbleiterschicht; Verringern einer Dicke der siliziumenthaltenden Halbleiterschicht; Füllen der Isolationsgräben mit einem Opfermaterial vor dem Verringern der Dicke der siliziumenthaltenden Halbleiterschicht; und Füllen der Isolationsgräben mit einem isolierenden Material nachdem das Opfermaterial aus den Isolationsgräben entfernt wurde.
申请公布号 DE102008044983(B4) 申请公布日期 2014.08.21
申请号 DE20081044983 申请日期 2008.08.29
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES, INC.;AMD FAB 36 LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG 发明人 HOENTSCHEL, JAN;WEI, ANDY;BEYER, SVEN
分类号 H01L21/8234;H01L21/762;H01L21/84 主分类号 H01L21/8234
代理机构 代理人
主权项
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